目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!
GT2100A数字集成电路多参测试仪,帮助您解决这类烦恼！
GT2100A 数字集成电路多参测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
数字集成电路多参测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部队、IC经销商使用。
1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4． 对IC输入电流、功耗电流测试。
5． 输入漏电流及交叉漏电流测试。
6． 测试过程无须人工干预。
7． 用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
8． 可自动识别74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型号。
在功能测试的基础上 1. 测试器件的输入端注入电流。
2.测试器件的输入端交叉漏电流。
3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。
4. 测试器件的输出负载电流。
5. 测试器件的功耗电流。
6.查找未知芯片型号。
7. 可以单次测试，也可以循环测试.
8.可自动识别74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。
1.8种可选择的测试电源。
2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。
3. 多种测试电压比较值。
4. 功耗测试。
以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。
1.模式O： 全组合参数测试。
2.模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。
3.模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。
4.模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。
5.模式F： 自编程测试。
1. 54 系列；4500 系列；
2. RAM 256K bit
3.74 系列；40000 系列；
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列；C00 系列。
6.光耦
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