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美国分立半导体器件综合测试仪
IST8800
产地:美国 品牌美国IST 单价:0
IST8800分立半导体器件综合测试仪

                    本仪器是美国IST公司最新研制的产品,采用Z80芯片,微机控制,液晶显示其测试条件及测量结果,可用于对晶体三极管,二极管,齐纳二极管,J型场效应管,可控硅管。,三端双向可控硅管和三端稳压器进行直流参数的测试,并可自动进行合格/不合格判断,对器件进行分选.本仪器并配有RS 232C串联接口和IEE 488接口,可配接电脑数据记录仪及打印机,打印出测试条件及结果。并可以对各类器件的予置测试条件进行存储。关机后,仍可保存在机内,以备下一次的使用。

性能指标:

三极管   Icbo  Iceo   Ices   Iebo   Icev
 电流 电压 分辨率 误差
0 200.0 nA0 600V0.1nA ±2%
0 200μA0 600V1 nA±1.5%
0 200.0μA0 600v1.1μA±1%
0 20.00mA0 500V10μA±1%
三级管 BVcbo BVebo BVcer BVces BVcev
电压 电流分辨率误差
0 600V0 30mA3V±1%
0 30V0 200mA0.1V±1%
三极管 Vve(sat)Vbe(sat)
电压电流分辨率误差
0 5V0 5A 2mV±2%
0 2V0 1A1mV±2%
三极管 hFE
 量程分辨率误差
hFE0 50001±2%
Vce0 20V  
Ic0 5A   
Ib0 1A  
二极管Ir
电流电压分辨率误差
0 200.0nA0 600V0.1nA±2%
0 200.0μA0 600V1 nA±1.5%
0 2.00μA0 600V0.1μA±1%
0 20.00mA0 500V10μA±1%
 二极管BVr
C 电流分辨率 误差
0 30V0 200mA 0.1V ±2%
0 600V0 20mA3V±2%
二极管Vf
电压电流分辨率误差
0 5V0 5A 2mV±2%

 
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