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美国分立半导体器件综合测试仪 [IST8800]
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美国分立半导体器件综合测试仪
IST8800
产地
:美国
品牌
:
美国IST
单价
:0
IST8800分立半导体器件综合测试仪
本仪器是美国IST公司最新研制的产品,采用Z80芯片,微机控制,液晶显示其测试条件及测量结果,可用于对晶体三极管,二极管,齐纳二极管,J型场效应管,可控硅管。,三端双向可控硅管和三端稳压器进行直流参数的测试,并可自动进行合格/不合格判断,对器件进行分选.本仪器并配有RS 232C串联接口和IEE 488接口,可配接电脑数据记录仪及打印机,打印出测试条件及结果。并可以对各类器件的予置测试条件进行存储。关机后,仍可保存在机内,以备下一次的使用。
性能指标:
三极管 Icbo Iceo Ices Iebo Icev
电流
电压
分辨率
误差
0 200.0 nA
0 600V
0.1nA
±2%
0 200μA
0 600V
1 nA
±1.5%
0 200.0μA
0 600v
1.1μA
±1%
0 20.00mA
0 500V
10μA
±1%
三级管 BVcbo BVebo BVcer BVces BVcev
电压
电流
分辨率
误差
0 600V
0 30mA
3V
±1%
0 30V
0 200mA
0.1V
±1%
三极管 Vve(sat)Vbe(sat)
电压
电流
分辨率
误差
0 5V
0 5A
2mV
±2%
0 2V
0 1A
1mV
±2%
三极管 hFE
量程
分辨率
误差
hFE
0 5000
1
±2%
Vce
0 20V
Ic
0 5A
Ib
0 1A
二极管Ir
电流
电压
分辨率
误差
0 200.0nA
0 600V
0.1nA
±2%
0 200.0μA
0 600V
1 nA
±1.5%
0 2.00μA
0 600V
0.1μA
±1%
0 20.00mA
0 500V
10μA
±1%
二极管BVr
C
电流
分辨率
误差
0 30V
0 200mA
0.1V
±2%
0 600V
0 20mA
3V
±2%
二极管Vf
电压
电流
分辨率
误差
0 5V
0 5A
2mV
±2%
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