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IC测试仪
IST-6500

产地：美国

品牌：美国IST

单价：0

本系统的主要特点

　存储器IC测试仪。对DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即时的功能分析测试。多种测试模式。
　最高容量64MB，最宽144位，且成本低廉全可编程。

主要功能：

IST6500型存储器功能参数测试仪
　　在2NS基频下，提供四种方法自动测试存取时间在2NS到160NS的各种器件（DRAM定时参数可编程提供1NS的基频）从而实现实时测试。
兼备有高速双通道阈值比较器的可编程动态加载，允许用户编程DUT输出口负载，以达到一个宽的工作范围。这一特性在SIMN器件测试钟尤其重要，因为后者须经常驱动，大容量小电阻的负载。

　　6500通过RS-232与PC机接口，器机械手接口具有“料箱排序”功能，可将器件按照选定的工作参数进行排序，这在工程元件特性或GO/NO GO测试中很具有典型意义。 IST6500易于编程，且存储有100个不同的用户自定义测试路径，提供了器件的各种工作参数包括存取时间，工作电流，备用电流，数据保持电流，输出负载，DUT电流源，定时参数，测试模式及逻辑阈值的自动引导测试或GO/NO GO测试，同时引导GO/NO GO 测试的参数的预置极限也可存储在程序里。

　　6500具备一系列完善的存储测试模式，并向用户提供短/长两种测试模式，它能在最短的时间内完成绝大多数RAM指标的检测。数据测试模式包括：
全1，全0，方格噪声模式，步1，步0，列干扰，滑动斜行，移动倒置，这些模式能检测存储器芯片上及其他地址上的短路，开路或单值错误，也能检测芯片干扰，信号转换放大器干扰及噪声灵敏度错误。

主要性能指标：

　　*可测试DRAM，SRAM，SIMN，VRAM器件(容量可高达64MB)的同步电流，输出驱动，阈电压，电源边界参数
　　*DRAM定时参数测试可以编程到1NS或“自动定时寻找”。
　　*提供刷新测试，基本，快速检测，密集或用户定义的测试模式。
　　*错误停止/错误步进，显示错误地址及错误位。
　　*测试回路内部自动转换不需要位每个测试器件装配分立模块。
　　*通用主机及专用插入式家用模块设计，可根据内存器件的变化随时进行扩充。
　　*支持DIP，ZIP，SOJ，SIP，PLCC，TSOP多种封装。
　　*后备电池支持的RAM存储了100个用户程序，用以各器件的特性的特性测试，因而提供了“一次性操作”
　　*配有232接口可独立操作或与PC联机操作，也可连接机械手对器件分类筛选。
　　*自动参数的缺省值允许瞬时“单键”测试。
　　*测速高达0.9SEC/MB/模式的DMA高速硬件测试电路.

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