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某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件测试报告

测试案例 / 2020-05-08 17:48:19 集成电路测试仪 集成电路测试 集成电路测试

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件测试报告

测试时间：2012-03-29 测试结果：失败


测试元件型号：SPHE8202L-F1-OK2


测试设备：英国ABI-AT256

Device:SPHE8202-F1-OK2
Package:QFP128
Scan Profile:Low V Digital
Overall Result:FAIL
Operator:Administrator
Report Date:29 March 2012


Test Summary

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件测试报告，使用英国abi集成电路测试仪AT256对集成电路SPHE8202L进行测试的资料。发现失效管脚与故障现象一致。

智联航-电路板故障检测设备 www.test.net.cn/article-detail/N1QgnYlN

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