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某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告

测试案例 / 2020-05-08 17:23:53

Device:        LM124J

Package:        14 pin DIL narrow

Scan Profile:        Low V Analogue

Overall Result:        FAIL

Operator:        Administrator

Report Date:        20 March 2012


某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告。测试使用英国ABI的AT256集成电路测试仪，故障现象与测试结果一致。找到故障管脚的失效原因。

智联航-电路板故障检测设备 www.test.net.cn/article-detail/b7Z0Yl0W

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