产品用途 :                                                                                                                                           

1、集成电路的来料入库筛选检测；

2、集成电路质量控制的检测与筛选；

3、集成电路一致性检测；

4、快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件；

5、集成电路失效分析；对不良集成电路进行三维动态阻抗失效分析测试；

6、非加电条件下对集成电路、电路板进行端口动态阻抗测试分析；

7、快速准确定位失效集成电路故障管脚，高效查找故障电路板的失效I/O管脚；

8、可系统集成其他测试平台的测试；

测试通道 :                                                                                                                                          

二维V-I动态阻抗测试通道：256路;
三维扫频V-I-F动态阻抗测试通道：64路;

产品特点 :                                                                                                                                           

1、非加电测试：安全可靠；

2、解决器件工艺、电路板工艺问题；

3、快速解决集成电路及电路板故障点定位问题；

4、集成电路和电路板阻抗一致性检测、快速解决阻抗匹配性问题；

5、配合测控平台软件，实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

6、设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。

预估性测试、维修：                                                                                                                        

基于先前状态比较测试和变更量的故障测试方法：

用于电子器件及电路板故障前的预测性维护

1. 电路板与集成电路I/O口数字电平的状态变化；（需要配合其他测试单元）
2. 电子器件（集成电路、分立器件、电路板）关键测试点的动态阻抗；
3. 矩阵式测试：解决器件不稳定性的测试方案；
4. 仿真测试采集电子器件、电路板关键点输出变化趋势，预测电子器件故障趋势；（需要配合其他测试单元）

英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪------技术规格：                                                              

1）256路二维V-I动态阻抗测试通道（集成电路测试通道）；

2）64路二维V-I动态阻抗测试通道（电路板测试通道）；

3）64路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道（失效分析通道）；

4）4路探笔测试，4路V-T/V-T-F测试通道；

5）显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F；

6）可定制多种封装通用集成电路测试治具；

7）可定制多种电路板I/O接口测试治具；

8）系统提供测试自定义报告输出；中英文用测试操作软件；

测试原理(V-I曲线测试)：                                                                                                                   

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:                                                                                                             

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试.

4.得到PASS或FAIL的测试结果.

不需要电子专业知识：                                                                                                                      
适用于集成电路/封装件.及多种类型电路板.

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接: PASS或FAIL.

软件可设定多种测试条件.

可提供集成电路自定义测试分析报告.

英国ABI-AT256  pro2多品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:                                         

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意: 
AT256 A4 pro2不受限于测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。