英国abi电路板故障检测仪_集成电路测试仪

英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪
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英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪

英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪
英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪具备二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:128路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:128路集成电路的来料质量控制检测与筛选,一致性检测;快速筛选假冒,仿制集成电路及元器件.

产品用途 :                                                                                                                                           

1、集成电路的来料入库筛选检测;

2、集成电路质量控制的检测与筛选;

3、集成电路一致性检测;

4、快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

5、集成电路失效分析;对不良集成电路进行三维动态阻抗失效分析测试;

6、非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;

7、快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

8、可系统集成其他测试平台的测试;

测试通道 :                                                                                                                                          

二维V-I动态阻抗测试通道:256路;
三维扫频V-I-F动态阻抗测试通道:64路;

产品特点 :                                                                                                                                           

1、非加电测试:安全可靠;

2、全面解决器件工艺、电路板工艺问题;

3、快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

4、集成电路和电路板阻抗一致性检测、快速解决阻抗匹配性问题;

5、配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

6、设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。

预估性测试、维修:                                                                                                                        


基于先前状态比较测试和变更量的故障测试方法:

用于电子器件及电路板故障前的预测性维护

  1. 电路板与集成电路I/O口数字电平的状态变化;(需要配合其他测试单元)
  2. 电子器件(集成电路、分立器件、电路板)关键测试点的动态阻抗;
  3. 矩阵式测试:解决器件不稳定性的测试方案;
  4. 仿真测试采集电子器件、电路板关键点输出变化趋势,预测电子器件故障趋势;(需要配合其他测试单元)

英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪------技术规格:                                                              

1)256路二维V-I动态阻抗测试通道(集成电路测试通道);

2)64路二维V-I动态阻抗测试通道(电路板测试通道);

3)64路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道(失效分析通道);

4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;

5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;

6)可定制各种封装通用集成电路测试治具;

7)可定制各种电路板I/O接口测试治具;

8)系统提供测试自定义报告输出;中英文专用测试操作软件;

测试原理(V-I曲线测试):                                                                                                                   

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:                                                                                                             

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试.

4.得到PASS或FAIL的测试结果.

不需要电子专业知识:                                                                                                                      
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板.

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接: PASS或FAIL.

软件可设定各种测试条件.

可提供完整的集成电路自定义测试分析报告.

英国ABI-AT256  pro2全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:                                         

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)



注意: 
AT256 A4 pro2不受限于测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。


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