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英国abi_AT256 A4 pro4集成电路筛选测试仪

英国abi_AT256 A4 pro4集成电路筛选测试仪
产品品牌: 英国abi
产品型号: AT256 A4 pro4


产品简介:                                                                                                                                           

英国abi_AT256 A4 pro4集成电路筛选测试仪具备二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

英国abi_AT256 A4 pro4集成电路筛选测试仪通道配置:                                                                  

二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路

二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路(可扩充至2048路)

三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路(可扩充至2048路)

功能用途:                                                                                                                                        

1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

4)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;

5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

6)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

8)配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

英国abi_AT256 A4 pro4集成电路筛选测试仪技术规格:                                                                

1)256路二维集成电路专用V-I端口动态阻抗测试通道;

2)256路二维电路板专用V-I端口动态阻抗测试通道;

3)256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道;

4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;

5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;

6)可定制各种封装通用集成电路测试治具;

7)可定制各种电路板I/O接口测试治具;

8)系统提供测试自定义报告输出;中英文专用测试操作软件;

9)设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。

测试原理(V-I曲线测试):                                                                                                                  

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:                                                                                                              

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试

4.得到PASS或FAIL的测试结果.

不需要电子专业知识.                                                                                                                         

适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板.

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接: PASS或FAIL.

软件可设定各种测试条件.

可提供完整的集成电路自定义测试分析报告.

英国ABI-AT256 A4 pro4全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:                                     

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意: AT256 A4 pro4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。



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