HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告


测试设备:电路板故障测试仪BM8600

使用模块:可编程电源+三维立体V-I-F曲线阻抗测试模块

测试内容:HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

测试结果:失败

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HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

测试结果分析:

1、图1说明国产器件与进口器件在相同频率下开关时间特性不同;

2、图2说明国产器件导通电压下限为1.12V;进口器件导通电压下限为1.4V;国产器件导通电压过低有可能会导致误触发。

3、在测试过程中,国产器件出现第3组光耦偶发性故障,施加触发电压后光耦无输出。

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