循环测试-判定间歇性故障元器件更准确

采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息.

简介: 

可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.

英国abi_ChipMaster手持数字集成电路测试仪特点：

·操作简单方便

·内置元器件库可扩充升级

·未知IC型号查找

·显示单个管脚故障诊断信息

·元件代换查询

·可选SOIC和PLCC适配座

·可选编程软件与PC实时通讯测试

·电池与直流供电

·可以选择不同封装的测试座

英国abi_ChipMaster手持数字集成电路测试仪功能:

Single-对测试座上的IC进行单次测试.

Loop-无论结果如何,重复进行测试

P Loop-若测试结果为PASS,重复进行测试

F Loop-若测试结果为FAIL,重复进行测试

Search-识别测试座上IC的型号

Diags-进行自我诊断测试

CmLink-进入CompactLink 软件通讯模式

Sw Off-将本仪器关机

专业的CompactLink编程通讯软件(选配件)

可以扩充元件库的编程软件;

与PC实时通讯测试软件;

允许用户根据软件增加新元器件库,并产生新的功能测试,可以满足特殊的应用;

软件采用PremierLink IC编程(PLIP);

高水平的测试编程描述语言;

较佳的模拟和数字测试程序;

可通过RS-232或者USB接口连接电脑;

本软件适合于ChipMaster和LinearMaster。